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第三代掃頻SS-OCT技術(shù)
大于1m距離下,實(shí)現(xiàn)納米精度測量
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全新第三代OCT技術(shù),掃頻光源SS-OCT技術(shù)原理圖
基于SS-OCT,實(shí)現(xiàn)Z軸重復(fù)精度優(yōu)于1nm的檢測能力,滿足非接觸式,非破壞測量要求
相比穩(wěn)頻激光器擁有更優(yōu)越的環(huán)境抗干擾能力
大于1m的工作距離,可實(shí)現(xiàn)超長工作距離的納米精度測量要求
靈活便攜的外置安裝設(shè)計(jì),匹配適用各種裝配場景
多個(gè)光學(xué)探頭搭配,極大提高整體檢測效率
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